平行平晶是以光波干涉原理為基礎,利用平晶的測量面與試件的被測量面之間所出現(xiàn)的干涉條紋來測量被測量面的誤差程度。
平行平晶具有高精度的平面性和平行性。
平行平晶用于檢定千分尺、杠桿千分尺、杠桿卡規(guī)和千分尺卡規(guī)等量具測量面的平面度和兩相對測量的平行度。平行平晶共分四個系列,每個系列各分六組,每組四塊。
平行平晶功能:平行平晶用于干涉法測量千分尺、卡規(guī)和千分表等測量面平面度、平面平行度。
平行平晶產(chǎn)品規(guī)格:
每組平行平晶共四塊,分四個尺寸系列組
測量面上平面度偏差: <0.1μm
平面度局部偏差: >0.03μm
測量面平行度誤差: 組Ⅰ系列允差值:0.06μm
組Ⅱ、Ⅲ系列允差值:0.08μm
組Ⅳ系列允差值:0.1μm
組Ⅰ |
平行平晶 |
0-25mm |
4塊/組 |
組Ⅱ |
平行平晶 |
25-50mm |
4塊/組 |
組Ⅲ |
平行平晶 |
50-75mm |
4塊/組 |
組Ⅳ |
平行平晶 |
75-100mm |
4塊/組 |
平行平晶尺寸系列表
組號 |
0-25 |
25-50 |
50-75 |
75-100 |
1 |
15.00,15.12 |
40.00,40.12 |
65.00,65.12 |
90.00,90.12 |
2 |
15.12,15.25 |
40.12,40.25 |
65.12,65.25 |
90.12,90.25 |
3 |
15.25,15.37 |
40.25,40.37 |
65.25,65.37 |
90.25,90.37 |
4 |
15.37,15.50 |
40.37,40.50 |
65.37,65.50 |
90.37,90.50 |
5 |
15.50,15.62 |
40.50,40.62 |
65.50,65.62 |
90.50,90.62 |
6 |
15.62,15.75 |
40.62,40.75 |
65.62,65.75 |
90.62,90.75 |